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簡要描述:聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X 能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術(shù),采用X光管產(chǎn)生X射線激發(fā)樣品,先進的SDD探測器探測元素特征X射線,2048道數(shù)字化全譜分析,可以分析包括輕元素在內(nèi)幾十種元素,具有分析速度快、分析精度高、分析范圍廣、穩(wěn)定性好、操作簡單等特點。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 聚創(chuàng)環(huán)保 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
---|---|---|---|
重復(fù)性 | 0.1 | 能量分辨率 | 1~45KeVeV |
分析含量范圍 | 0.07ppm~99.9% | 元素分析范圍 | Na-U |
價格區(qū)間 | 10萬-30萬 | 儀器種類 | 臺式/落地式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,化工,農(nóng)業(yè),地礦 |
聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X
一、產(chǎn)品介紹
能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術(shù),采用X光管產(chǎn)生X射線激發(fā)樣品,先進的SDD探測器探測元素特征X射線,2048道數(shù)字化全譜分析,可以分析包括輕元素在內(nèi)幾十種元素,具有分析速度快、分析精度高、分析范圍廣、穩(wěn)定性好、操作簡單等特點。
在銅合金等金屬制造行業(yè)中,材料、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC,該儀器是質(zhì)量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復(fù)檢的常備儀器。生產(chǎn)者可以控制合金中的元素各成分含量,提高產(chǎn)品性能、減少次品和廢品,提高經(jīng)濟效益。
二、主要用途
主要用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鑄鐵等原材料檢驗,冶煉生產(chǎn)過程成分控制,成品元素成分定值,爐前合金的快速分析和成品分析。
三、性能特點
☆.采用了美國新型的電致冷硅漂移SDD半導體探測器,具有高分辨率(125eV)和高探測效率;
☆.采用高真空度測樣裝置,消除了空氣對低能X射線的阻擋,滿足RoHS或合金檢測時對輕元素的準確分析;
☆.采用大功率的正高壓X光管和高壓發(fā)生器,提高了對輕重元素的檢測下限,實現(xiàn)了對多種元素的同時快速檢測分析;
☆.自動開蓋,無限平臺的設(shè)計適應(yīng)多種不同大小規(guī)格樣品的檢測,可以測量固體、 液體、粉末樣品;
☆.內(nèi)置彩色CCD攝像頭,使用戶可以精確定位檢測區(qū)域及時記錄所測樣品圖像信息;
☆.一體化的設(shè)計,使得儀器的性能穩(wěn)定可靠、故障率低;
☆.采用USB-CAN適配器與計算機進行通信,使用方便;
☆.自動切換的濾片裝置有效的降低了光管的散射本底,提高了儀器測量的峰谷比和分辨率,使得重元素和微量元素的測量更準確;
☆.先進的全數(shù)字化多道譜儀讓儀器測量時的數(shù)據(jù)采集和處理更加快速準確,極大的提高了儀器的穩(wěn)定性和抗干擾的能力;
☆.自帶數(shù)據(jù)庫管理系統(tǒng)的全中文測量軟件讓儀器的測量更加方便,操作更加簡單;
☆.多重安全的防護設(shè)計,使儀器的整機輻射符合國家輻射防護標準,讓用戶用的放心。
四、技術(shù)指標
1.分析元素范圍:Na-U
銅合金:Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等;
鑄鐵:Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等;
不銹鋼:Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等;
2.元素含量分析范圍:0.07ppm~99.9%;
3.探測器:電致冷硅漂移SDD半導體探測器(分辨率優(yōu)于139eV);
4.測量范圍:1~45KeV;
6.高壓:5kV~50kV;
7.管流:5μA~1000μA;
8.整機額定功率:50W;
9.CDD攝像頭分辨率:500萬像素;
10.真空泵額定功率:550W;
11.10秒鐘真空度可達10-2Pa (高真空區(qū)域10-1~10-5Pa);
12.檢測時間:120s~300s(時間隨樣品不同可調(diào)整);
13.儀器重量:65Kg;
14.儀器尺寸:720(W)X440(D)X435(H)mm
聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X
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